远方信息受邀为第二届显示技术与计量测试研讨会作报告
发布时间：2017-11-15
11月14日-15日，第二届显示技术与计量测试研讨会在美丽的海滨城市——厦门召开。国家质检总局计量司朱美娜处长、中国计量科学研究院光学所林延东所长为大会致辞，厦门市计量检定测试院蒋淑恋院长主持会议开幕式。杭州远方检测校准技术有限公司主任陈聪博士受邀为大会带来了题为《显示技术的发展对计量技术的挑战与应对》的专题报告。
会议现场
本次研讨会以“未来显示技术与计量测试的机遇和挑战”为主题，围绕显示产业亟需解决的问题和未来发展方向，邀请国内外知名专家与业界权威代表作大会报告，展示产业新产品与技术，并进行学术交流，促进相互合作。
陈聪博士受邀为大会做报告
当前显示技术可谓是百花齐放，各放异彩，特别是随着量子点技术、HDR技术的深入应用，以及OLED显示产品的不断普及，显示性能的提升对计量本身就提出了更高的要求；另外AR/VR技术也发展迅速，如何表征测量是国际普遍关注的问题。随着显示技术的不断推陈出新，不同的显示设备之前的性能比较必须依靠高质量的计量技术，陈聪博士的报告正是针对当前全球热点的显示产品以及未来的技术发展趋势，重点分析相应的计量技术所存在的挑战，并基于现有行业发展水平讨论应对之道。
远方高端显示测量设备受到与会专家关注
作为全球领先的LED光电检测设备专业供应商，此次在市场全面的转型升级过程中，远方提早布局，积累了大量针对显示测量的专利和技术储备。在此次大会同期举行的展会上，远方便受邀在大会现场展示了其高端显示测量设备及解决方案，受到了与会专家和企业代表的高度关注。
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